AankondigingAankondiging van een opdracht - algemene richtlijn, standaardregeling

Metrology SEM+FIB system

Nederlandse organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek · gepubliceerd op

Bekijk op TenderNed

Over deze aanbesteding

Soort publicatie
Aankondiging · Aankondiging van een opdracht - algemene richtlijn, standaardregeling
Gepubliceerd
28 juli 2026
Sector
Overig
Onderwerpen (CPV)
Micro-elektronische machines en toestellen en microsystemen; Diverse apparatuur voor beoordeling en testen

Omschrijving van de opdrachtgever

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers.

Bekijk op TenderNed

Meer van Nederlandse organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek

Alle publicaties

Vergelijkbare aanbestedingen

Bron: TenderNed. Bijgewerkt op 10 nov 2026 om 06:53. Gegevens van personen tonen we niet.

Hoor het eerder

Probeer het in PRYSM

Start gratis trial

Wacht niet op de aanbesteding

Vraag een trial aan en ontvang de signalen uit vergaderstukken voor jouw diensten en regio.

Metrology SEM+FIB system – Nederlandse organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek